آنالیز ذرات

شرکت طیف آزما نماینده انحصاری شرکت SYMPATEC آلمان سازنده دستگاه‌های Laser Diffraction و DLS در ایران می‌باشد. شرکت SYMPATEC انواع دستگاه‌های اندازه‌گیری سایز و شکل ذرات را در مقیاس آزمایشگاهی و صنعتی تولید می‌نماید که شامل چهار تکنولوژی پیشرفته پراکندگی نور لیزر، پراکندگی نور دینامیکی، آنالیز تصویر و خاموشی امواج فراصوتی می‌باشد.

• پراکندگی نور لیزر (Laser Diffraction)

این تکنیک برای سنجش رنج وسیعی از اندازه ذرات و توزیع آن‌ها به کار می‌رود. سیستم پایه قابلیت سنجش اندازه ذرات از 0/1 میکرومتر تا 8750 میکرومتر را دارا می‌باشد. انواع ماژول‌های خشک، تر و اسپری‌ بر روی این سیستم نصب می‌شوند تا بتوانند کاربردهای متنوع لازم را پوشش دهند.

• پراکندگی نور دینامیکی (Dynamic Light Scattering)

این تکنیک به طور گسترده برای اندازه گیری ذرات نانو از ۱ تا 10000 نانومتر، مورد استفاده قرار می‌گیرد. دستگاه NANOPHOX با استفاده از تکنیک ثبت اختراع شده PCCS PsB، قابلیت اندازه‌گیری نمونه‌های غلیظ در دیسپرسانت‌های غیر‌شفاف را دارا می‌باشد، به طوری که به منحنی کالیبراسیون نیازمند نیست.

• خاموشی امواج فراصوتی (Ultrasonic Extinction)

این تکنیک بیشترین کاربرد را در خطوط تولید دارد، جایی که نمونه‌ها عمدتا بسیار غلیظ و کدر هستند و به همین دلیل قابل اندازه‌گیری با لیزر نمی‌باشند. سیستم OPUS می‌تواند رنج وسیعی از اندازه ذرات از 0/1 تا 3000 میکرومتر را سنجش نماید.

• آنالیز تصویر (Image Analysis)

این تکنیک به دنبال ثبت ویژگی‌های فیزیکی ذرات است، با استفاده از این روش اشکال هندسی تمامی ذرات شامل متراکم و خرد قابل ردیابی می‌باشد.